Question

如圖13-4-10所示是用干涉法檢測(cè)平凸透鏡磨制的是否符合要求的裝置.A是被檢測(cè)的平凸透鏡，B是具有一定曲率的標(biāo)準(zhǔn)件.若二者完全吻合，則看不到圓環(huán)狀干涉條紋，若不完全吻合，即二者間有一層空氣膜時(shí)，則可觀察到圓環(huán)狀干涉條紋.實(shí)驗(yàn)時(shí)單色光從正上方入射，那么所觀察到的圓環(huán)狀干涉條紋是由下列哪兩個(gè)表面反射的光線疊加產(chǎn)生的（    ）

圖13-4-10

A.平凸透鏡的上表面和下表面

B.平凸透鏡的上表面和空氣膜的上表面

C.空氣膜的上表面和下表面

D.標(biāo)準(zhǔn)件的上表面和下表面

Answer 1

解析：這是利用薄膜干涉原理檢查平凸透鏡磨制的是否符合要求的方法，干涉條紋是空氣薄膜C的干涉形成的，即空氣薄膜的上表面（A的下表面）和空氣薄膜的下表面（B的上表面）的反射光相疊加而發(fā)生干涉，C項(xiàng)正確.

答案：C